Определение размеров коллоидных квантовых точек в полуконтактном режиме АСМ

М.С. Вакштейн, Н.В. Аратов, В.В. Зосимов
ФГУП «Научно-исследовательский институт прикладной акустики», Центр высоких технологий,
г. Дубна, Московская обл.

Оптические свойства квантовых точек (КТ) напрямую зависят от их размера. Поэтому определение размера нанокристаллов является важной практической задачей. Метод атомно-силовой микроскопии хорошо подходит для решения данной задачи, т.к. с его помощью достигается субнанометровое разрешение. В работе продемонстрировано влияние ключевых приборных параметров и пробоподготовки образца на отображаемую высоту квантовых точек. Показано, что присутствие сильного электролита в золе КТ позволяет получить изображения отдельных наночастиц и с высокой точностью определить их размер.

Ключевые слова: АСМ, полуконтактный режим, квантовые точки, эффект конволюции, определение размеров

Назад